和計量解決方案全球領導者CAMECA公司于當日宣布推出最新次級離子質譜分析儀器（SIMS）IMS 7f-Auto。據悉，IMS 7f-Auto應用于先進材料研究領域，主要用做同位元素分析。CAMECA副總裁兼市場部經理表示，IMS 7f-Auto繼承并發展了IMS 7f系列的成熟技術，亮點在于新設計的主列、機動儲存室以及更新的自動化程序。IMS7f-Auto集高敏感性、目前市場最高動態范圍、光痕最大檢測極限以及高吞吐量分析于一體，具有其他同類產品無法比擬的產品硬實力。

　　此外，CAMECA優化了IMS7f-Auto的性能以使其更好適用于諸如玻璃、金屬、陶瓷、硅基長波長光電設備、III-V及II-VI設備等更多的挑戰性應用，使之成為在散裝材料和薄膜技術領域極具專業的產品，從而滿足行業對開發和過程控制均高效設備的需求。